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近年来业界发表了许多关于低引脚间距元器件底部清洗工艺的论文,遗憾的是大多研究所包含的信息都不完整。因此ZESTRON认为对于当前行业所面临的挑战需要进行重新分析和更精确的描述,以找到我们手头所掌握信息中的缺漏之处。这些缺漏的信息对潜在客户和现有客户来说都非常重要,我们需要为不同引脚间距的元器件定义不同的洁净度等级、并为它们找到恰当的清洗工艺。另外,随着无铅焊接工艺的普及,元器件底部的间隙进一步缩小,如何清洗引脚间距小于1-Mil的器件等应用给业界带来了新的挑战。
田剑先生将会在他的演讲中提供详细的实验数据以体现流体力学、温度和溶液浓度对清洗工艺的影响。
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