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ZESTRON在2014 SMTA上发表“浓度监控及闭环系统的优势”演讲

放大字体  缩小字体 发布日期:2014-05-13  来源:SMT之家商务通  作者:Zestron  浏览次数:702
核心提示:演讲聚焦于一种能够有效提升浓度监控质量的新技术,这种技术在精确测定水基清洗液的浓度时不会受到助焊剂残留沉积的影响。演讲中提供了大量对比性的数据以证实新技术与传统测试方法相比展现出的诸多优势
ZESTRON在2014 SMTA华东高科技会议上发表“浓度监控及闭环系统的优势”专题演讲

2014-05-13_151356全球领先的电子制造业精密清洗产品、工艺解决方案及培训提供商ZESTRON非常荣幸地宣布ZESTRON中国区高级工艺工程师纪建光先生在2014年4月23日于上海世博展览馆召开的 SMTA 华东高科技会议上成功发表了题为“浓度监控及闭环系统的优势”专题演讲。
 
通常业内使用手动或自动的折光率测试设备来判断水基清洗液的浓度。但是,随着清洗过程的不断深入,大量的助焊剂残留污染物逐渐在清洗液中积累,折光率测试仪的读数也就随之受到影响,最终反馈出错误的工艺控制措施,造成工艺不稳定。

本次发表的演讲聚焦于一种能够有效提升浓度监控质量的新技术,这种技术在精确测定水基清洗液的浓度时不会受到助焊剂残留沉积的影响。演讲中提供了大量对比性的数据以证实新技术与传统测试方法相比展现出的诸多优势。

如需了解与该课题相关的更多资料,欢迎您通过info@zestronchina.com与我们的工艺工程师团队取得联系,您也可以访问我们的网站www.zestron.com获得更多讯息。
 
关键词: ZESTRON SMTA
 
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