1. 配置高性能半导体检测器,实现无与伦比的分析性能;
2. 轻松应对轻元素的高灵敏度检测;
3. 满足从初学者到专家的高操作性能;
4. 自动保存样品图像。
满足所有领域不同的应用
■ 电子·电气
·RoHS指令、无卤素等筛选分析
·半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析
■ 汽车·机械
· 应对ELV指令的筛选分析
· 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测
■ 钢铁·非金属
· 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析
· 炉渣的组成分析
■ 矿业
· 选矿工艺的成色鉴别分析
■ 窑业
· 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析
■ 石油·石油化学
· 油中硫元素的分析
· 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析
■ 化学工业
·无机·有机原料和产品分析
·催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析
■ 环境
· 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析
■ 医药
· 合成时的残留催化剂分析
· 原药中不纯物分析、异物分析
■ 农业·食品
· 土壤、肥料、植物的分析
· 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析
■ 其它
· 考古学样品及宝石成分分析
玩具·日用品中有害重金属元素测定等
产品规格:
测定原理: | X射线荧光分析法 |
测定方法: | 能量色散型 |
测定对象: | 固体、液体、粉末 |
测定范围: | 11Na~92U(EDX-7000) 6C~92U(EDX-8000) |
样品室尺寸: | 最大300(W)*275(D)*约100(H)mm(但不包括R部分) |
照射面积: | 1、3、5、10mmΦ:4种自动切换 |
1次滤光片: | 5种(含OPEN为6种)自动切换 |
样品观察: | CMOS图像装置 |
定量分析: | 工作曲线法、共存元素校正FP法、薄膜FP法、背景FP法 |
主机尺寸: | 460(W)*590(D)*360(H)mm |
主机重量: | 约45KG |