DAGE X-ray

产品型号：XD7500VR，XD7600NT，XD7800VR

X光检查在LED，PCB及半导体行业中被认为是最关键的测试步骤。在当今的封装设计中发现缺陷是非常重要的，因此，X光系统必须在不同的观察角度能够提供高分辨率、高放大倍率和高对比度的图像。

 

 

产品参数： 

规格:XD7500VR 

尺寸(长x宽x高):1450 x 1700 x 1970mm 

重量:1900 KG 

最小聚集光点:0.95micron 

Ｘ光发射管:开放管 

X 射线管电压范围:30-160 KV 

最大检测面积:458MM x 407MM 

最大板尺寸: 508MM x 444MM 

最大样本重量:5 KG 

电源:单相 200-230V/16A 

斜角视图:0-70°(360°全方位检测) 

系统（几何）放大倍率:1200x 

辐射安全标准:1uSv/Hr(符合欧美标准）

 

产品规格： 

最小分辨率：950纳米(0.95 微米)； 

影像接收器左右偏转角度各70度（共140度），旋转360度； 

图像采集:1.3M万数字CCD； 

最大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm)； 

最大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm)； 

系统最大放大倍数: 至5650X； 

显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)； 

安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等

 

 

 

-最小分辨率: 250纳米(0.25微米)；

-影像接收器左右偏转角度各70度（共140度），旋转360度；

-最大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm )；

-最大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444 mm ) ；

-系统最大放大倍数: 至 6500 X；

-图像采集: 1.3 M万数字CCD；

-显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200 PIXELS)；

-安全性: 在机器表面任何地方 X 光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等 ……

 

 

Dage XD7800VR或NT是专门用于大尺寸样品的X光无损检测的系统。

 

主要特征： 

-最小分辨率: 950 纳米 (0 .95 微米 )；

-影像接收器左右偏转角度各70 度（共 140 度），旋转 360 度；

-最大检测区域: 24 ” x 30” (610 x 762 mm )；

-最大样品尺寸: 24.3” x 33” (617 x 838 mm )；

-最大样品重量: 10KG ；

-系统最大放大倍数: 至 5650 X ；

-图像采集: 1.3 M 万数字 CCD ；

-显示器: 20" (DVI interface) 数字彩色平板 LCD

 

DAGE X-ray 测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管（Open Tube）技术，在放大倍数方面远远超过了采用闭管（Closed Tube）技术的X光检测仪达到亚微米级，能满足客户更高精度的需求。